Caractérisation sous pointes en électronique de puissance
Le dispositif de caractérisation sous pointes permet la mesure précise et fiable de nouveaux dispositifs électroniques. Les spécifications suivantes intégrées dans un seul système, rendent cette plateforme flexible et à haut niveau de performances :
- pression atmosphérique à quelques 10-6 mb ar
- température régulée à 50mK sur la plage 83K à 675K (possibilité 4K à 675K)
- haute tension (10kV)
- faible courant (triax fA)
- fibre optique intra-enceinte
Le G2Elab est impliqué, ainsi qu’une équipe de l’Institut Néel, afin de repousser les limites existantes de la caractérisation.
Possibilités offertes
Cette plateforme propose deux équipements aux caractéristiques spécifiques et complémentaires à chaque cartographie sous pointes.
La description de ces équipements figure ci-dessous.
- Station Janis
- Agilent B1505+HCSMU+HPSMU
- Modules B1505 HPSMU+MCFMU Keithley 2636A et 2401
- Câbles HV et triax
- Table Anti vibration passive
- Dewar LN2
- Contrôleur de température Lakeshore
