Soutenance de thèse de Do Phuong Uyen TRAN

Composition du jury proposé  :

M. Yvan AVENAS    Université Grenoble Alpes, Grenoble INP    Directeur de thèse
M. Christophe BATARD    IUT de Nantes, IETR, site de la chantrerie    Rapporteur
M. Cyril BUTTAY    CNRS, Insa Lyon    Rapporteur
M. Stéphane RAEL    Université de Lorraine    Examinateur
M. Jean-Luc SCHANEN    Grenoble INP    Examinateur
M. Stéphane LEFEBVRE    CNAM    Co-encadrant de thèse

Résumé :
L'estimation des pertes des composants à semi-conducteurs est nécessaire pour évaluer le rendement des convertisseurs statiques et pour caractériser les performances des composants en vue de dimensionner leur système de refroidissement. Les travaux de thèse portent sur de nouvelles méthodes basées sur la calorimétrie dynamique permettant d'estimer les pertes du composant à semi¬conducteur de puissance et d'obtenir leur évolution en fonction de la température de jonction du composant. La première est basée sur la notion d'impédance thermique tandis que la deuxième utilise la différence de température entre deux points à l'intérieur d'un bloc métallique sur lequel le composant est monté. Une généralisation de ces méthodes à un composant multi-puces ou à plusieurs composants est également présentée. Le mémoire de thèse est structuré en trois chapitres équivalents
présentation des méthodes et analyse des facteurs d'influence, conception d'un dispositif contenant une instrumentation adaptée à la mesure de la température, validation des méthodes en mode de conduction, et enfin mise en oeuvre des validations expérimentales dans des conditions de fonctionnement normal du composant. L'application de ces méthodes pourraient également être envisagée pour différents types de composants à semi-conducteurs, en particulier les composants à grand gap.